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QVI家族成員-VIEW高端測量儀系列

點擊次數:更新时间:2014-02-14 16:21:42

全球最大的影像測量系統公司QVI-OGP旗下的VIEW Micro-Metrology是由Micro-Metric和VIEW Engineering – 世界顶尖的两家非接触式光學測量儀企業合並而成,兩家公司都擁有逾30年的行業技術和經驗,其高性能測量系統分爲兩大系列:擅長測量複雜零部件的高速、高精度坐標測量系統,以及專門用于測量半導體、MEMs晶圓、硬盤磁頭滑塊、光罩的顯微鏡系統。

微电子和微机械元件的测量过程要求集高准确度、精确性、可靠性为一体,并能灵活地为手头的應用创建整套解决方案。而VIEW Micro-Metrology每一台测量系统就融入这些特点,使用经过验证的材料和设计制造出持久可靠的高性能工程平台,专注于经验丰富的工程技术應用,将硬件、光学和软件恰到好处的结合起来以解决关键工序的测量问题。

VIEW影像測量儀幫助技術前沿的公司在微制造,數據存儲,半導體,醫療設備,汽車零部件,精密加工和注塑件,航天航空器件,太陽能電池和MEMS等領域,開發和控制關鍵生産工藝和産品質量,被測的工件特征可小于1微米,具有納米級的精度性能。

VIEW Micro-Metrology光学测量产品的應用优势:

l小型移动硬盘驱动:存储臂,冲模和微凹几何图形(swage and dimple geometry),pitch and roll

l柔性電路板:線寬和輪廓分析

l磁盤介質:ID,OD,圓度,同軸度,倒角長度

l錫膏摸板

lPC板

l錫膏高度、面積、體積

l元件貼裝

l引線框

l電子封裝

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